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R3 反射光谱测量系统
R3 反射光谱测量系统
多角度反射率光谱测量
反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取较好的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。
复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。
      
百种组合,随想而生
      
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技术参数
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描述
R3
反射光谱测量支架(TA 光纤)
R3-SMA
反射光谱测量支架(SMA905 光纤)
R3-FC
反射光谱测量支架(FC光纤)
R3-DTA
反射光谱测量支架(双TA光纤)
R3-U
反射光谱测量万向支架(TA 光纤万向调节)
R3-DU
反射光谱测量双万向支架(双 TA 光纤万向调节)
R3-Mix
反射光谱测量支架(双 TA 光纤)
R3-R
反射光谱测量支架(TA 光纤倒置)
R3-IS20/30/50
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透射光谱测量支架 / 积分球
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