MetronLens,专业化的“超构透镜光学检测系统”，超构透镜光学检测系统

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超构透镜检测系统 | MetronLens

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MetronLens，超构透镜光学检测系统
“光场 + 相位 + 远场” / 全面表征 / 简单易用

MetronLens 超构透镜光学检测系统 是一款面向超构透镜、超构表面、微透镜阵列等平面光学元件的专用光学检测系统。该系统综合了显微成像技术、离轴数字全息技术以及远场成像技术等多种先进技术，可实现光场分布、相位分布和远场分布的原位检测，深刻揭示超构表面、超构透镜、微透镜阵列等平面光学元件的内在物理特性，为验证设计的准确性、制备加工工艺的优化提供了强有力的检测工具。

MetronLens 超构透镜光学检测系统

典型应用领域：
       超构表面(Metasurface)   是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构，可以高自由度的对光波进行调控和操纵，因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。
       微透镜阵列(Microlens Array，MLA)   是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列，因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。
       衍射光学元件(Diffractive Optical Elements, DOE)   是基于光的衍射效应而设计的光学元件，核心是对光的相位进行调制，需要高分辨率的相位测量。

      MetronLens 超构透镜光学检测系统在以上领域的应用得益于如下几个创新点： 1  毫秒级相位检测 MetronLens 基于“微型透镜检测系统及其检测方法”发明专利和离轴外差干涉技术，在显微体系下实现了毫秒级相位分布检测，相位分辨率可达 50mrad； 2  高空间分辨率采用优异光学设计，结合大NA（大于 0.75）高倍率的成像系统和高像素数探测器，确保大视场下空间分辨率可达 0.6μm； 3  高精度 z轴扫描配有三轴全闭环超高精度电控位移台,能够轻松实现 0~22mm 行程的光场扫描，z轴扫描定位精度最小可达到 ±1μm； 4  多波长测试光源系统内部最多可集成 457nm、532nm、660nm 三种连续激光光源，可满足多样化的波段测试需求，并支持其他光源外部扩展。

      了解更多内容： 如何在显微尺度检测周期性样品？如何测量纳米结构的角度色散？

复享超构透镜光学检测系统的相关参考文献
✽ "Phase characterisation of metalenses." Light: Science & Applications (2021).
影响因子：20.257，单位：复旦大学，通讯作者：石磊, 董建文, 资剑, 蔡定平
✽ "A Highly Efficient Bifunctional Dielectric Metasurface Enabling Polarization-Tuned Focusing and Deflection for Visible Light." Advanced Optical Materials (2019).
影响因子：10.05，单位：韩国光云大学，通讯作者：Sang-Shin Lee
✽ "Experimental demonstration of optical trapping and manipulation with multifunctional metasurface." Optics Letters (2022).
影响因子：3.56，单位：西安光机所，通讯作者：王国玺, 姚保利
✽ "Metalenses at visible wavelengths: Diffraction-limited focusing and subwavelength resolution imaging." Science (2016).
影响因子：63.714，单位：哈佛大学，通讯作者：Federico Capasso
✽ "Revolutionary meta-imaging: from superlensto metalens." Photon.Insights (2023).
单位：南京大学，通讯作者：李涛,祝世宁,陈晨
✽ "A meta-device for intelligent depthperception." Advanced Materials (2023).
影响因子：16.639，单位：香港理工大学，通讯作者：蔡定平
✽ "Monocular metasurface camera for passivesingle-shot 4D imaging." Nature Communications (2023).
影响因子：8.799，单位：清华大学，通讯作者：杨原牧

§ 建议标注文字：MetronLens，Optical measurement system of metalenses. ideaoptics. China // Thanks for your support!

技术参数

关键技术

型号

描述

MetronLens

光场检测 + 远场检测

MetronLens-Phi

相位检测 + 光场检测 + 远场检测

MetronLens

项目

值

测量模式：

透射光场分布检测，透射远场分布检测

可测量光学参数：

光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布

系统数值孔径：

0.75 @ 40X

视野范围：

Φ0.5mm @ 40X，Φ4mm @ 5X

空间分辨率：

0.45μm @ 40X，2.35μm @ 5X

z轴扫描精度：

±1μm（0~1mm 行程），±3μm（1~22mm 行程）

焦距最大测量范围：

5mm

标配光源：

532nm 光纤连续激光器

入射平行光发散角：

0.2°

光源拓展接口：

1个 FC/APC接口

MetronLens-Phi

项目

值

测量模式：

透射相位分布检测，透射光场分布检测，透射远场分布检测

可测量光学参数：

相位分布、波相差、泽尼克像差、光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布

系统数值孔径：

0.75 @ 40X

视野范围：

Φ0.5mm @ 40X

空间分辨率：

0.6μm @ 40X

相位测量分辨率（RMS）：

50mrad

相位测量波相差：

0.05λ

z轴扫描精度：

±1μm（0~1mm 行程），±3μm（1~22mm 行程）

焦距最大测量范围：

5mm

标配光源：

457nm、532nm、660nm 空间光连续激光器

入射平行光发散角：

0.1°

光源拓展接口：

1个 FC/APC接口、1个空间光接口

选配模块

项目

值

偏振扩展：

支持实现入射/接收偏振加载，适配 4mm 厚度偏振片

定制服务：

支持其他激光波长扩展定制

消像差设计
采用消除像差光学设计

入射平行光技术
采用专利的平行光入射模块，解决了光束发散的问题，入射平行光发散角 ≤ 1° 。

面阵背照式技术
可见波段采用制冷型面阵背照式技术，大幅提高量子化效率。

MetronLens 在微型可调式艾里光束超构器件中的应用		MetronLens 在超构透镜相位检测中的应用		MetronLens 在超构表面偏振检测中的应用
MetronLens 在超构表面光场检测中的应用