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一根能测“微区”透反射的探头
一根能测“微区”透反射的探头
最小 1μm 空间分辨率 / 测量位置标记 / 即插 & 即用
      
FIB-M 微区透反射探头
采用共轭成像原理,利用光纤作为 Pin Hole,在显微尺度上进行空间分辨的光谱测量。同时,利用微区指示照明技术,精确地将测量位置标记在视野之中。最终为您带来一款能测“微区”透反射光谱的探头。
      
典型应用领域:
      
 纳米线荧光 
  纳米线通常具有小于 1μm 的直径,并且不同直径纳米线中所能支持的光学模式也不同,因此为了分析每根纳米线的发光特性,需要能够在微米级尺度准确地测量光谱。
      
 微球散射 
  不同数量微球组成的团簇,其光学模式也不同,需要能够将光谱测量区域定位在团簇之内。
      
 MEMS 器件 
  MEMS 器件具有微米级尺寸,需要能够采集器件内局部特征位置的光谱。
      
      
了解更多内容:
 如何测量显微光谱?
 
 高灵敏光谱仪 
 
 微区荧光探头 
 
 卤素光源 
部分SCI标注文献
技术参数
技术参数
型号
描述
FIB-M-100-DUV
1μm 空间分辨率,深紫外石英材质
FIB-M-100-UV
1μm 空间分辨率,紫外石英材质
FIB-M-100-NIR
1μm 空间分辨率,红外石英材质
FIB-M-200-XSR
2μm 空间分辨率,抗紫外石英材质
FIB-M-200-DUV
2μm 空间分辨率,深紫外石英材质
FIB-M-200-UV
2μm 空间分辨率,紫外石英材质
FIB-M-200-NIR
2μm 空间分辨率,红外石英材质
FIB-M-400-XSR
4μm 空间分辨率,抗紫外石英材质
FIB-M-400-DUV
4μm 空间分辨率,深紫外石英材质
FIB-M-400-UV
4μm 空间分辨率,紫外石英材质
FIB-M-400-NIR
4μm 空间分辨率,红外石英材质
FIB-M-600-XSR
6μm 空间分辨率,抗紫外石英材质
FIB-M-600-DUV
6μm 空间分辨率,深紫外石英材质
FIB-M-600-UV
6μm 空间分辨率,紫外石英材质
FIB-M-600-NIR
6μm 空间分辨率,红外石英材质
备注:(*) 以上分辨率都基于 100X 物镜计算
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性能参数
项目
值
光谱范围:
依不同型号而不同,详细参见《型号表》
光纤接口:
光谱输出接口为 SMA905,指示照明接口为 SMA905
光纤芯径:
依不同型号而不同,型号中的数字表示芯径,单位为 μm
数值孔径:
0.22 N.A.
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