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角分辨光谱系统应用

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R1宏观角分辨光谱测量
化繁为简、游刃有余
R1是一款用于测量样品角分辨光谱的系统。在许多领域中，科研人员为了获取样品的宏观角分辨光谱，需要动手搭建复杂的支架系统。这是一件耗时耗力的工程。R1的出现改变了这一切。它化繁复为简单，节省了用户在仪器设备搭建上花费的时间，使得测量角分辨光谱成为一件快速而轻松的事情。
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微区光谱与显微角分辨光谱联用系统

<strong>微区光谱技术背景</strong>
微区光谱，又称显微光谱，是一种对样品进行μm量级空间分辨的光谱测量方法。一般来说，光谱测量系统的空间分辨能力决定于系统中光斑的大小。对于使用自由光路的光谱测量系统，其光斑约在cm量级，例如大型分光光度计；对于使用光纤的光谱测量系统，其光斑约在mm量级，例如基于光纤光谱仪的<a href="http://www.ideaoptics.com/Application/AppContent.aspx?appid=3c390e3a-46f8-4ebf-ab5a-8cde8cb31c49">反射率测量系统</a>（图1所示）。在微纳光子学领域中，为了研究微观样品的光谱性能，经常需要将光谱测量系统的空间分辨率提高至μm量级。而做到这一点的难度在于，必须将光斑缩小约百倍，同时将系统的灵敏度提高约百倍。
了解更多微区光谱或显微光谱原理，请参考：<a href="http://www.ideaoptics.com/Application/AppContent.aspx?appid=356b43f3-e8cf-49b6-be0b-468957d12570">显微光谱系统</a>
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